English Elipsometr

English

01SE400adv

SENTECH

  • Dokładność: do  0,1 Å dla cienkich warstw
  • Kąt pomiaru: 40° – 90° z krokiem pomiarowym co 5°
  • Pomiary współczynnika załamania światła, współczynnika wzbudzenia i grubości warstw dla pojedynczych warstw i struktur wielowarstwowych

01Ask a question