Nanomateriały Reflektometr

FILMMETRICS F20UV, Bridge Tronic Global

• zintegrowany spektrometr
• filtr spłaszczający dla silnie odbijających podłoży
• samodzielne oprogramowanie do zdalnej analizy danych
• wzorce reflektancji
• wzorzec grubości
• stolik do pomiaru próbek z kablem światłowodowym i lampą HT1
• zakres pomiaru grubości: 1 nm – 40 μm przy długości fali w zakresie 190 – 1100 nm
• pomiar grubości warstw
• pomiar współczynnika załamania światła