Nanomateriały Elipsometr
Nanomateriały
01SE400adv
SENTECH
- Dokładność: do 0,1 Å dla cienkich warstw
- Kąt pomiaru: 40° – 90° z krokiem pomiarowym co 5°
- Pomiary współczynnika załamania światła, współczynnika wzbudzenia i grubości warstw dla pojedynczych warstw i struktur wielowarstwowych
